Moshchalkov V.V., Pace S., Zhu X., Grimaldi G., Leo A., Nigro A., Silhanek A.V., Gillijns W., Berdiyorov G.R., Milosevic M.V., Verellen N., Metlushko V., Ilic B.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes, YBCO, coated conductors, power equipment, magnetic properties, critical caracteristics, RABITS process, MOD process, IBAD process, MOCVD process, current-voltage characteristics, critical current, n-value, resistance, temperature dependence, susceptibility, recovery characteristics, FCL resistive, prototype, experimental results
Ключевые слова: pinning centers, microstructure, LTS, Al, films, Jc/B curves, critical caracteristics, current-voltage characteristics
Pogosov W.V.(walter.pogosov@fys.kuleuven.ac.be), Moshchalkov V.V.
Ключевые слова: pinning centers, vortex structures, pinning arrays artificial, vortex phase diagram, numerical analysis
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.